Профилометрия
Измерение плоскости и топография поверхностей с нанометрическим разрешением.
Высокоточные топографические измерительные системы Polytec серии TMS TopMap - это современные и супертехнологичные интерферометры белого света для бесконтактного измерения профиля поверхности.
Имея широкий диапазон сканирования по высоте и нанометрическое разрешение, они являются идеальным инструментом для количественного определения гладкости / шероховатости поверхности, перепадов высот и параллельности протяженных поверхностей и конструкций, включая мягкие материалы.
Измерение свойств поверхности является необходимым во многих отраслях промышленности. Компоненты и конструкции размерностью от долей миллиметров до нескольких сантиметров можно найти в производстве микроэлектроники и систем хранения данных, микромеханизмов и микродатчиков, в разработке и производстве автомобильных компонентов и микроспутников.
В данном разделе вы найдете информацию о различных профилометрах белого света серии TMS TopMap, находящих свое применение как в производственном контроле качества, так и в исследовательских задачах. Дополнительно, мы включили разделы где рассказывается об общих принципах работы профилометров и их прикладном применении. |
