Технические данные
Сканирующий виброметр с микроскопом MSV-400 – Технические данные
Сканирующий виброметр с микроскопом
MSV
-400 – преемник хорошо известной системы
MSV
-300. Широкая полоса пропускания 20 МГц и размер пятна лазера порядка 1 мкм позволяют выполнять исследование вибрации разнообразных
MEMS
.
MSV
может использоваться для испытания печатных плат, если микроскоп интегрирован с
зондовой станцией для
MEMS
. Комбинация с анализатором плоских перемещений
Polytec
PMA
-400 усиливает возможности
MSV
для полного трехмерного анализа перемещений.
Конфигурации системы MSV-400
|
|
|
MSV-400-M2 |
Стандартная конфигурация, полоса пропускания 1 МГц, (дополнительно до 2 МГц) |
|
MSV-400-M2-20 (A) |
ВЧ конфигурация с ВЧ декодером скорости,
Полоса пропускания 10 МГц |
|
MSV-400-M2-20 (B) |
ВЧ конфигурация с ВЧ декодером перемещений,
Полоса пропускания 20 МГц |
Сканирующий модуль микроскопа MSV-100
|
Оптическая сенсорная головка |
Стандартно:
OFV
-551 одноволоконная (см. технические характеристики)
Дополнительно:
OFV
-552 двухволоконная с опорным зеркалом |
|
Класс безопасности лазера |
<1 мВ видимый лазер (
Class
2) |
|
Диаметр
луча |
10
мкм
с
4x
линзой
микроскопа
~ 1 мкм с 40
x
линзой микроскопа |
|
Сканеры |
Замкнутого цикла, двухступенчатый пьезсканер |
|
Разрешение сканера |
> 200
x
200 точек в поле обзора |
|
Видеокамера |
Цифровая камера с прогрессивной разверткой (1,3 Мпикс) с интерфейсом
FireWire
(
IEEE
1394) |
|
Поле обзора |
Примерно 2,5
x
1,75 мм с 4
x
линзой
Примерно 100
x
70 мкм 40
x
линзой |
|
Поле сканирования |
1,75
x
1,75 мм с 4
x
линзой
70
x
70 мм с 100
x
линзой |
|
Подключение к микроскопу |
Через
CCD
-порт (
C
-
mount
) |
|
Рекомендуемые микроскопы |
Mitutoyo FS70 Series
Zeiss Axioskop 2Mat Series
Olympus
BX2M Series
Leica DMLM Series
Пожалуйста, обратитесь к вашему представителю
Polytec
за рекомендацией |
|
